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G 物理
G01 測量(計量見G06M);測試
G01H 機械振動或超音波、音波或亞音波之測量(不帶測量的機械振動之產生見 B06B,G10K;物體之位置,方向或速度之測量見 G01C,S;流體的準穩定壓力測量見 G01L 7/00;不平衡之測定見 G01M 1/14;發射音波或超音波穿透材料本身以測定材料性能見 G01N;應用聲納物體成像見 G01S 15/00;地震學,地震深測,聲學探測見 G01V 1/00;聲-光裝置本身見 G02F;應用超音波、音波或亞音波通用類似於攝影之技術而得到之記錄見 G03B 42/06;語言分析或合成,語言識別見 G10L;基於記錄載體與傳感器之間相對運動之資訊儲存見 G11B;一般的壓電、電致伸縮或磁致伸縮元件見 H01L;採用測量頻率進而改進諧振器之工藝過程製造電機諧振器見 H03H 3/00)
G01H 1/00應用直接傳導至檢測器之方法測量固體中之振動(9/00,11/00優先)
G01H 1/04垂直傳播方向振動者
G01H 1/06頻率
G01H 1/08振幅
G01H 1/10扭轉振動者
G01H 1/12縱向或不確定方向之振動者 [4]
G01H 1/14頻率 [4]
G01H 1/16振幅 [4]
G01H 3/00應用流體中之檢測器測量振動(7/00,9/00,11/00優先)
G01H 3/04頻率
G01H 3/06應用電之方法
G01H 3/08分析複雜振動之頻率,如比較諧波
G01H 3/10振幅;功率
G01H 3/12應用電之方法(3/14優先)[2]
G01H 3/14測量平均振幅;測量平均功率;測量功率之時間積分 [2]
G01H 5/00測量超音波、音波或亞音波之傳播速度
G01H 7/00測量混響時間(測量振動在材料中之吸收見G01N;產生混響的裝置見G10K15/08)
G01H 9/00應用對輻射敏感的裝置,如光學裝置,測量機械振動或超音波、音波或亞音波
G01H 11/00利用檢測電或磁特性之變化測量機械振動之超音波、音波或亞音波
G01H 11/02用磁之方法,如磁阻 [4]
G01H 11/04用磁致伸縮之裝置 [4]
G01H 11/06用電之方法 [4]
G01H 11/08用壓電裝置 [4]
G01H 13/00測量諧振頻率
G01H 15/00測量力學阻抗或聲阻抗 [3]
G01H 17/00未包括於以上各目內之機械振動或超音波、音波或亞音波之測量 [4]
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