IPC國際專利分類查詢
共65筆資料
| G | 物理 |
|---|---|
| G01 | 測量（計量見G06M）；測試 |
| G01T | 核輻射或X射線輻射之測量（材料之輻射分析，質譜測定法見G01N；計數器本身見G06M，H03K；用於分析輻射或粒子之放電管見H01J40/00，47/00，49/00） |
| G01T 1/00 | X射線輻射、γ射線輻射、微粒子輻射或宇宙線輻射之測量（3/00，5/00優先）[2] |
| G01T 1/02 | 劑量計（1/15優先；X射線輻照時間測量見H05G1/28）[2] |
| G01T 1/04 | 化學劑量計（1/06，1/08優先） |
| G01T 1/06 | 玻璃劑量計 |
| G01T 1/08 | 照像劑量計（感光材料或照相工藝見G03C） |
| G01T 1/10 | 發光劑量計 |
| G01T 1/105 | 讀出裝置（1/115優先）[2] |
| G01T 1/11 | 熱發光劑量計 |
| G01T 1/115 | 讀出裝置 [2] |
| G01T 1/12 | 量熱劑量計 |
| G01T 1/14 | 靜電劑量計（電離室之構造見H01J 47/02） |
| G01T 1/142 | 充電裝置，讀出裝置 [2] |
| G01T 1/15 | 累積由輻射探測器產生的脈波之儀器，如應用二極管泵激電路（一般脈波頻率計見G01R 23/02） |
| G01T 1/16 | 輻射強度測量（1/29優先）[2] |
| G01T 1/161 | 於核醫學領域之應用，如人體內之計數（放射性物質作用於人體見A61M 36/00）[2] |
| G01T 1/163 | 全身計數器 [2] |
| G01T 1/164 | 閃爍照相法（放射性同位素見G21G 4/00；示蹤劑見G21H 5/00）[2] |
| G01T 1/166 | 包括探測器與被測體之相對運動 [2] |
| G01T 1/167 | 測量物體放射性含量，如污染之測量（全身計數器見1/163）[2] |
| G01T 1/169 | 污染的表面面積之探查及定位（利用核輻射、天然或感生的輻射進行探勘見G01V 5/00）[2] |
| G01T 1/17 | 專用型探測器以外之電路裝置 |
| G01T 1/172 | 帶符合電路裝置者（1/178優先）[2] |
| G01T 1/175 | 電源電路 [2,2006.01] |
| G01T 1/178 | 用於測量存在其他放射性物質中之比活度，如於空氣中或液體中，如於雨水中天然比活度 [2] |
| G01T 1/18 | 用計數管裝置，如用蓋格(Geiger)計數器（計數管見H01J 47/00） |
| G01T 1/185 | 用電離室裝置（電離室之構造見H01J 47/02）[2] |
| G01T 1/20 | 用閃爍探測器 |
| G01T 1/202 | 閃爍體是晶體者 |
| G01T 1/203 | 閃爍體是塑料者 |
| G01T 1/204 | 閃爍體是液體者 |
| G01T 1/205 | 閃爍體是氣體者 |
| G01T 1/208 | 專用於閃爍探測器之電路，如用於光電倍增管部件 [2] |
| G01T 1/22 | 用塞倫科夫(Cerenkov)探測器 |
| G01T 1/24 | 用半導體探測器（半導體探測器本身見H01L 31/00） |
| G01T 1/26 | 用電阻探測器 |
| G01T 1/28 | 用二次發射探測器（一般二次電子發射電極見H01J 1/32） |
| G01T 1/29 | 對輻射束流之測量，如測量射束位置或截面；輻射之空間分佈之測量（閃爍造影術見1/164）[2] |
| G01T 1/30 | 測量放射性物質之半衰期 |
| G01T 1/32 | 測量粒子之極化 |
| G01T 1/34 | 測量截面，如測量粒子之吸收截面 |
| G01T 1/36 | 測量X射線或核輻射之能譜分佈 |
| G01T 1/38 | 粒子辨別及相對質量之測量，如測量能量損耗與距離之關係（dE/dx）[2] |
| G01T 1/40 | 光譜儀之穩定 [2] |
| G01T 3/00 | 中子輻射之測量（5/00優先）[2] |
| G01T 3/02 | 用屏蔽其他輻射之方法 |
| G01T 3/04 | 用量熱器 |
| G01T 3/06 | 用閃爍探測器 [2] |
| G01T 3/08 | 用半導體探測器（半導體探測器本身見H01L31/00）[2] |
| G01T 5/00 | 粒子之運動或軌跡之記錄（火花室見H01J 47/00）；粒子軌跡之處理或分析 [2] |
| G01T 5/02 | 軌跡之處理；軌跡之分析 |
| G01T 5/04 | 雲霧室，如威爾遜(Wilson)雲室 |
| G01T 5/06 | 氣泡室 |
| G01T 5/08 | 閃爍室（放電管見H01J 40/00，47/00；半導體裝置見H01L） |
| G01T 5/10 | 板或塊，其中經由處理後核粒子之軌跡成為可見者，如利用照相乳膠，利用雲母 |
| G01T 5/12 | 具有多線室或平行板電離室之電路裝置，如火花室（火花放電管本身見H01J47/00）[2] |
| G01T 7/00 | 輻射計量儀器之附件 |
| G01T 7/02 | 用於接收或存貯被測試的樣品之收集裝置 |
| G01T 7/04 | 用過濾法 |
| G01T 7/06 | 用靜電沉澱法（7/04優先） |
| G01T 7/08 | 運送接收的樣品之裝置 |
| G01T 7/10 | 用轉台 |
| G01T 7/12 | 備有報警動作之機構 |