IPC國際專利分類查詢
共13筆資料
| G | 物理 |
|---|---|
| G01 | 測量（計量見G06M）；測試 |
| G01B | (人體計量參見相關分類位置,如A41H1/00,A43D1/02,A61B 5/103;與手杖組合計量器具見A45B3/08;按尺寸分選者見B07;專用於金屬軋製測量方法,裝置見B21B38/00;計量用未作特別改進之裝配工具,繪圖儀器見B23B49/00,B23Q15/00至17/00,B43L;專用於磨削或拋光操作計量,量測設備見B24B 49/00;計量裝置與書寫設備組合見B43K29/08;大地航海,航空測量,測繪,測距見G01C;攝影測量,影像測量見G01C 11/00;一般力,應力計量見G01 |
| G01B 1/00 | 以選用材料為其特徵之計量儀器 |
| G01B 3/00 | 各次目中所列的以使用機械測量方法為其特徵之量具（用於計量特定參量的設備見5/00；專門適用於或安裝用於貯存與重複放出及重新貯存長度材之一般裝置見B65H 75/34）[2] |
| G01B 5/00 | 以採用機械方法為特徵的計量設備（包括在主目3/00中之各式量具本身見3/00）[2] |
| G01B 7/00 | 以採用電或磁之方法為特徵的計量設備 |
| G01B 9/00 | 次目中所列者及以採用光學測量方法為其特徵之儀器（用於測量特定的參量之裝置見11/00）[2] |
| G01B 11/00 | 以採用光學方法為特徵之計量設備（9/00目中包括之各式儀器本身見9/00）[2] |
| G01B 13/00 | 以採用流體為特徵之計量設備 |
| G01B 15/00 | 以採用波或粒子輻射為特徵之計量設備（9/00，11/00優先）[4] |
| G01B 17/00 | 以採用次聲波、聲波、超音波振動為特徵之計量設備 [4] |
| G01B 21/00 | 不適合於上述各目內所列計量方法之特定類型之計量設備或零件 [3] |