IPC國際專利分類查詢
共10筆資料
| G | 物理 |
|---|---|
| G01 | 測量（計量見G06M）；測試 |
| G01J | 紅外光、可見光、紫外光強度、速度、光譜成分，偏振、相位或脈衝特性之測量；比色法；輻射高溫度測定法（光源見F21、H01J、K、H05B；用光學方法測試材料之性質見G01N）[2] |
| G01J 1/00 | 光度測定法，如照相之曝光計（分光光度測定法見3/00；專用於輻射高溫測定法者見5/00） |
| G01J 3/00 | 光譜測定法；分光光度測定法；單色器；測定顏色 [4] |
| G01J 4/00 | 測量光之偏振（經由測量光之偏振面之旋轉以測試或分析材料者見G01N 21/21）[2] |
| G01J 5/00 | 輻射高溫測定法（一般光度測定法見1/00；一般光譜測定法見3/00） |
| G01J 7/00 | 測量光速 |
| G01J 9/00 | 測量光學相位差（控制光束相位之設備或裝置見G01J3/01）；測定相干性之程度；測量光學波長（光譜測定法見G02F3/00）[3] |
| G01J 11/00 | 測量單個光脈波或光脈波序列之特性 [5] |