IPC國際專利分類查詢
共25筆資料
| G | 物理 |
|---|---|
| G01 | 測量（計量見G06M）；測試 |
| G01N | （一般的材料組成分之分離見B01D，J，B03，B07；完全列入其他單個次類內之裝置參見有關之次類，如B01L；除免疫測定法以外包括酶或微生物之測量或試驗見C12M，Q；施工現場地基土質之測試見E02D1/00；用於廢氣處理裝置的檢測或診斷儀表見F01N11/00；為補償其他可變量之測量或為補償儀器讀數隨濕度之變化而檢測濕度之變化，參見G01D或與所測可變量相應的次類；結構件特性之試驗或測定見G01M；材料電磁性質之測量或測試見G01R；利用反射或再輻射無線電波之傳播效應（如都卜勒效應）、傳播時間，來測定 |
| G01N 1/00 | 取樣；製備測試用之樣品（用於自動分析之材料處理見35/00） |
| G01N 3/00 | 用機械應力測試固體材料之強度特性（應變儀見G01B；一般應力測量見G01L 1/00） |
| G01N 5/00 | 用稱量之方法分析材料，如稱量由氣體或液體分離出的微粒（9/00優先） |
| G01N 7/00 | 經由測量氣體或蒸汽的壓力或體積分析材料 |
| G01N 9/00 | 測試材料之密度或比重；經由測定密度或比重以分析材料（稱量設備見G01G） |
| G01N 11/00 | 測試材料之流動特性，如黏滯性或可塑性；經由測定流動特性 |
| G01N 13/00 | 研究表面或邊界效應，例如濕潤能力；研究擴散效應；透過測定表面、邊界效應或擴散效應分析材料；研究或分析原子級之表面結構 [1,7] |
| G01N 15/00 | 測試顆粒之特性；測試多孔材料之滲透性，孔隙體積或者孔隙表面積（微生物之識別見C12Q）[4] |
| G01N 17/00 | 測試材料之耐氣侯、耐磨蝕、或耐光照性能[1,2006.01] |
| G01N 19/00 | 用機械方法測試材料（3/00至17/00優先） |
| G01N 21/00 | 利用光學手段，即利用紅外光，可見光或紫光外來測試或分析材料（3/00至19/00優先；一般的測定應力見G01L1/00；測量儀器之光學元件見G02B；利用數據處理進行圖像分析見G06T） |
| G01N 22/00 | 利用微波測試或分析材料（3/00至17/00，24/00優先）[3] |
| G01N 23/00 | 利用未包括於21/00至22/00目內之波或粒子輻射以測試或分析材料，如X射線，中子（3/00至17/00優先；一般的應力測定見G01L/100；核輻射或X射線輻射之測量見G01T；將物體或材料送入核反應爐，或者自其中移出，或者於反應爐內處理後予儲存見G21C，X射線裝置或其相應的電路之結構或操作見H05G） |
| G01N 24/00 | 利用核磁共振，電子順磁共振或其他自旋效應以測試或分析材料（測量磁共振效應之設備或儀器見G01R33/20）[3,4,5] |
| G01N 25/00 | 應用熱方法測試或分析材料（3/00至23/00優先） |
| G01N 27/00 | 用電、電化學或磁之方法測試或分析材料（3/00至25/00優先；電或磁變量之測量或試驗，材料之電磁性能之測量或試驗見G01R） |
| G01N 29/00 | 利用超音波、音波或亞音波以測試或分析材料；依超音波或音波通過物體之傳送而得物體內部之顯像（3/00至27/00優先；超音波、音波或亞音波之一般測量或指示見G01H；利用音波的反射和再輻射，例如音波成像的系統見G01S15/00；利用超音波、音波或亞音波靠類似於照相之技術獲得記錄見G03B 42/06）[4] |
| G01N 30/00 | 利用吸附作用，吸收作用或類似現象，或者利用離子交換，如色譜法將材料分離成各個組成分予以測試或分析材料（3/00至29/00優先；為各組成分之製備或生產而分離見B01D 15/00，53/02，53/14）[4] |
| G01N 31/00 | 利用本目規定的化學方法對非生物物質之測試與分析（不利用酶或微生物檢測消毒過程的有效性或完全性見A61L2/28；包含酶或微生物之測量或試驗見C12Q 1/00）；此類方法專用之裝置 [4] |
| G01N 33/00 | 利用不包括在1/00至31/00各目中的特殊方法來研究或分析材料 [1,8] |
| G01N 35/00 | 不限於用1/00至33/00中任何單獨一目提供的方法或材料所進行之自動分析，及材料之傳送 [3,8] |
| G01N 37/00 | 本次類其他各目均不包括的方法[3,8] |