IPC國際專利分類查詢
共11筆資料
| G | 物理 |
|---|---|
| G01 | 測量（計量見G06M）；測試 |
| G01Q | 掃描探針技術或設備；掃描探針技術之應用，例如掃描探針顯微術[SPM][2010.01] |
| G01Q 10/00 | 掃描或定位裝置，即主動控制探針移動或位置之裝置 [2010.01] |
| G01Q 20/00 | 監控探針之移動或位置[2010.01] |
| G01Q 30/00 | 用於協助或改善掃描探針技術、設備之輔助方法，例如顯示或資料處理裝置 [2010.01] |
| G01Q 40/00 | 校正，例如探針的校正[2010.01] |
| G01Q 60/00 | 特殊形式的SPM(掃瞄探針顯微術)或為此特殊形式的SPM所需的設備；其基本零部件[2010.01] |
| G01Q 70/00 | 非G01Q 60/00特殊型式SPM技術所包含的SPM探針之ㄧ般特徵，其製造或其相關設備 [2010.01] |
| G01Q 80/00 | 除SPM外，掃描探針技術之應用(微米結構之製造或處理見B81C；奈米結構之製造或處理見B82B 3/00；藉由近場交互作用紀錄或再生資訊者見G11B 9/12，G11B 11/24或G11B 13/08) [2010.01] |
| G01Q 90/00 | 其它類不包括的掃描探針技術或設備 [2010.01] |