IPC國際專利分類查詢
共13筆資料
| G | 物理 |
|---|---|
| G01 | 測量（計量見G06M）；測試 |
| G01V | 地球物理；重力測量；物質或物體的探測；示蹤物（用於診斷、外科手術或人體識別的檢測或對異物的定位見A61B；用於指示因意外事故被掩埋的人之位置，如被雪掩埋的人之位置的裝置見A63B 29/02；藉由測定其化學或物理性質來調查或分析地球物質見G01N；除地球磁場的方向或大小以外的一般性電變量或磁變量之測量見G01R；一般磁共振裝置見G01R 33/20）[4,6] |
| G01V 1/00 | 地震學；地震或聲學之探勘或探測 |
| G01V 3/00 | 電或磁之探勘或探測；（用光學裝置見8/00）；地磁場特性之測量，如磁偏角，磁偏差（用於導航或大地之測繪見G01C）[2,4] |
| G01V 5/00 | 應用核輻射進行探勘或探測，如利用天然的或誘導的放射性（測定材料之性質見G01N；測量核輻射見G01T） |
| G01V 7/00 | 測量引力場或波；重力探勘或探測 |
| G01V 8/00 | 用光學裝置探勘或探測（攝影測量法或影像測量法見G01C11/00；光的特性之測量見G01J；光學掃描系統見G02B 26/10；探測輻射存在之放電管見H01J40/00，47/00；對光敏感之半導體裝置見H01L31/00）[6,8] |
| G01V 9/00 | 用1/00至8/00各目中所未包含的探勘或探測方法 [6] |
| G01V 11/00 | 採用1/00至9/00各主目內所包括的兩個或兩個以上之綜合技術的方法進行探勘或探測 |
| G01V 13/00 | 包括於1/00至11/00各目內的儀器或設備之製造、校正、清潔或修理 |
| G01V 15/00 | 為了能夠探測目標物而與目標相連接或相結合的示蹤物（與機器一起使用的記錄載體見G06K 19/00；記號標記見G09F）[6] |
| G01V 99/00 | 本次類各目中不包括的技術主題 [2009.01] |