IPC國際專利分類查詢
共32筆資料
| H | 電學 |
|---|---|
| H01 | 基本電氣元件 |
| H01J | 電子管或放電燈（火花隙見H01T；消耗電極之弧燈見H05B；粒子加速器見H05H） |
| H01J 1/00 | 電極、磁控裝置，屏及固定或安裝之零部件、該零部件通用於兩種以上基本型之電子管或燈（電子光學裝置之零部件或離子阱之零部件見3/00） |
| H01J 3/00 | 通用於兩種或兩種以上基本類型之放電管或燈之電子光學或離子光學裝置之零部件或離子阱之零部件 |
| H01J 5/00 | 通用於兩種或兩種以上基本型之放電管或放電燈之外殼或引入線之零部件 |
| H01J 7/00 | 1/00至5/00各目不包括者並通用於兩種或兩種以上基本類型之放電管或燈之零部件[1,8] |
| H01J 9/00 | 專用於製造放電管、放電燈及其部件之設備與方法（金屬管殼或金屬容器之製造見B21，如B21D 51/00；玻璃管殼或玻璃容器者製造見C03B）；從放電管或燈回收材料 [1,7] |
| H01J 11/00 | 管殼內無任何主電極之充氣放電管；管殼外至少有一個主電極之充氣放電管（燈見65/00） |
| H01J 13/00 | 有液池陰極之放電管，如金屬蒸汽整流管（燈見61/00） |
| H01J 15/00 | 有氣體陰極之充氣放電管，如電漿陰極（燈見61/62） |
| H01J 17/00 | 有固體陰極之充氣放電管（25/00，27/00，31/00至41/00優先；氣體或蒸汽放電燈見61/00；充氣火花隙見H01T；Marx變換器見H02M7/26；由氣流所帶電荷產生電位差之管見H02N） |
| H01J 19/00 | 21/00目內包括的各種型式之真空管之零部件 |
| H01J 21/00 | 真空管（25/00，31/00至40/00，43/00，47/00，49/00優先；真空管零部件見19/00；陰極射線或電子束燈見63/00） |
| H01J 23/00 | 25/00目內各種渡越時間型電子管之零部件 |
| H01J 25/00 | 渡越時間管，如速調管，行波管、磁控管（渡越時間管之零部件見23/00，粒子加速器見H05H） |
| H01J 27/00 | 離子束管（25/00，33/00，37/00優先；粒子加速器見H05H） |
| H01J 29/00 | 31/00目內之各種陰極射線管或電子束管之零部件 |
| H01J 31/00 | 陰極射線管；電子束管（25/00, 33/00,35/00,37/00優先；陰極射線管或電子束管之零部件見29/00；陰極射線燈或電子流燈見63/00） |
| H01J 33/00 | 有使電子或離子由管殼穿出的結構之電子管（粒子加速器見H05H）；Lenard管 |
| H01J 35/00 | X射線管（X射線雷射器見H01S 4/00；一般X射線技術見H05G） |
| H01J 37/00 | 有將物質或材料引入使受放電作用的結構之電子管，如為對其檢驗或加工者（33/00，40/00，41/00，47/00，49/00優先；以掃描探針技術在原子範圍探查或分析表面結構見G01N13/10；用電子束對電子線路之無接觸測試見G01R 31/305；掃描探針裝置之零部件，一般見G12B21/00）[2,5] |
| H01J 40/00 | 不包含氣體電離的光電管（49/00優先；陰極射線管或攝像管見31/26）[3] |
| H01J 41/00 | 測量充入氣體壓力之電子管（用此管之真空計裝置見 G01L21/30）；由離子擴散抽氣的電子管 |
| H01J 43/00 | 二次發射管；電子倍增管（動態電子倍增管見25/76；用於測量核輻射或X軸射之二次放射檢測器見G01T1/28） |
| H01J 45/00 | 起熱離子發生器作用之電子管 |
| H01J 47/00 | 用以測定輻射或粒子之存在、強度、密度或能量之管（不包含氣體電離之光電管見40/00）[3] |
| H01J 49/00 | 粒子分光儀或粒子分離管（測量氣體壓強見41/10）[3,8] |
| H01J 61/00 | 氣體或蒸汽放電燈（用於奶製品消毒者見A23C；用於醫療者見A61N5/00；用於水之消毒者見C02F；用於照明者見F21；所用之電路見H05B；有消耗電極之弧光燈見H05B；場致發光燈見H05B） |
| H01J 63/00 | 陰極射線燈或電子注燈（飛點管見31/10；電眼調諧指示管見31/14；有由射線或電子注加熱發光體之燈見H01K） |
| H01J 65/00 | 管殼內無任何電極之燈；管殼外至少有一個主電極之燈 |
| H01J 99/00 | 本次類其他目不包含的技術主題[8] |